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11月3日，慕尼黑華南電子展開幕，在展會同期舉辦的“智能制造與自動化專題論壇”上，w66國際·利來技術和多家知名企業一起，圍繞智能制造轉型升級的難點痛點，分享了行業洞察和解決方案。
??w66國際·利來技術參會代表以《結合運動控制的AI缺陷檢測技術及在手機中框檢測中的應用》為題進行分享，受到業內關注。
w66國際·利來技術代表現場分享
??RevEye AOI 360手機中框檢測產品，集成了測量定位、缺陷檢測、高頻同步觸發、多軸軌跡控制等多種精密自動化技術，可廣泛用于各類移動終端產品的中框外觀缺陷檢測，是w66國際·利來技術融合運動控制和人工智能技術，傾力開發的視覺缺陷檢測平臺。
??該產品應用等距線掃軌跡規劃技術，通過360度掃描整個手機中框，實現對運動中框表面的一次性清晰成像，成像精度達到微米級，并通過優化現有深度學習模型，自主開發出全新的缺陷識別算法，高速、精準地實現對缺陷的定位識別，對圖像的分割和對缺陷區域尺寸的測量。
??慕尼黑華南電子展總規模達到40,000平方米，與中國（深圳）機器視覺展暨機器視覺技術及工業應用研討會、慕尼黑華南電子生產設備展、華南先進激光及加工應用技術展覽會、華南電路板國際貿易采購博覽會等聯合同期開展，從研發、制造到應用，展示電子行業產業鏈上下游前沿技術，助力加速行業創新升級。
